XU-100光譜測厚儀
性能優勢
● 檢測速度快 即放即測，最快可1秒出檢測結果 | ● 變焦裝置算法 可對各種凹槽異形件進行檢測，凹槽深度測量范圍可達0-30mm |
● 高精密微型移動滑軌 微米級移動精度，快速精準定位微小樣品 | ● 更高的性價比 制造工藝升級，更具性價比，大大節省使用成本 |
● 使用壽命長 模塊化設計，聚焦節能，搭載自動休眠模式，延長使用壽命 |
XU-100光譜測厚儀
技術參數
型號 | XU-100 |
測量元素范圍 | CI(17)/AI(13)-U(92) |
涂鍍層分析范圍 | Li(3)-U(92) |
RoHS | 可選配 |
算法 | 自主研發的EFP算法 |
軟件操作 | 人性化封閉軟件，自動判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作 |
X射線裝置 | 微聚焦射線管 |
準直孔 | Ф0.1mm/Ф0.2mm/0.5mm/5mm(選配四準) |
信號及接收 | Pro-SD處理器+PC/DPP+FAST SDD(選配) |
濾光片 | 選配集成嵌入式多濾光片切換裝置 |
微光聚焦技術 | 最近測距光斑擴散度 10% |
測量距離 | 具有距離補償功能，可改變測量距離測量凹凸異形樣品，變焦距離可達0-30mm |
樣品觀測 | 1/2.7"彩色CCD，變焦功能 |
對焦方式 | 高敏感鏡頭，手動對焦 |
放大倍數 | 光學38-46X，數字放大40-200倍 |
儀器尺寸 | 550mm*360mm*410mm |
樣品艙尺寸 | 長435mmx寬330mmx高140mm |
樣品臺移動 | 選配高精密XY手動移動平臺 |
可移動范圍 | 50mm*50mm |
